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失效分析及材料分析专题讲座

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                                                           失效分析及材料分析专题讲座
讲座简介

胜科纳米是世界顶尖的独立第三方实验室,我们的材料分析和失效分析实验室配备了全套的高端分析仪器,并搭建起开放式的专业分析平台,拥有世界一流的实验设备包括TEM,Dual Beam FIB,SEM,EDX,TOF-SIMS, D-SIMS,XPS,AFM,EMMI (InGaAs),OBIRCH,TIVA,Auger及FTIR等。我们的专家级分析人员均拥有十多年的海外业界经验,对工艺流程和分析试验设计都有深入了解。
胜科纳米这次举办的专题讲座,将通过介绍诸多先进分析手段在失效分析及材料分析中的应用,重点对典型案例的讲解,提供生产及研发过程中的一站式解决方案。此次专题讲座适合于企业中质量、研发、生产部门的技术人员及管理人员参加。


专题内容

•胜科纳米是您的“知芯人”将为您提供高端的失效分析和材料分析服务(Overview)
徐艺文(技术业务主管),毕业于北京大学微电子系和美国匹兹堡大学ECE系深造,加入胜科纳米之前在AMD奥斯汀总部失效分析实验室工作。


•电学分析技术在失效分析和材料分析中的应用(EFA/EMMI/OBIRCH)
傅超(市场总监),有超过10年在安捷伦、安华高等国际知名公司的管理经验。


•物理分析技术在失效分析和材料分析中的应用(FIB/SEM/EDX/TEM/EBSD)
周永凯博士(物理分析技术部经理),新加坡国立大学材料学博士,失效分析和透射电镜分析专家。

•表面分析技术在失效分析和材料分析中的应用(SIMS/XPS/AUGER/FTIR/AFM)
华佑南博士(资深技术总监),新加坡国立大学物理学博士,国际知名失效分析和材料分析专家。

 

欢迎相关企业朋友莅临参加!
报名联系人:牛兴花邮箱:
xinghua@wintech-nano.com
电话:(0512)62800006
(报名时请注明参加人员姓名及人数)

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